荧光分光光度计主要性能指标/测试方法

荧光分光光度计的性能指标通常包括：信噪比、波长准确度、波长重复性、检出限、线性、光谱校正误差、荧光池成套性、光谱仪探测范围、荧光寿命测量范围、光源、单色器、是否提供变温环境等。通过这些指标参数，可以对仪器的基本性能有大致了解。这些技术指标的测试方法可参照JJG（教委）025-1996及JJG537-2006《荧光分光光度计检定规程》，也可以参照仪器供应商提供的验收方法进行。校准的周期视情况而定，但是当条件改变（例如更换光源灯、光电倍增管等）或对测量结果有怀疑时，都应及时对仪器进行校准。
1 光谱仪的探测范围
该指标主要表征检测器性能，一般光电倍增管检测器探测范围在190一870nm，选用InGaAs或Ge探测器后，探测范围可扩展到800～1700nm。
2 荧光寿命测量范围
荧光寿命测量范围是荧光仪瞬态系统的一个重要参数，根据仪器所用光源及检测器的不同，通常分为微秒级、纳秒级、皮秒级。
3 氢纳秒灯的稳定性
如果荧光仪配有可测量荧光寿命的氢纳秒灯，它可测寿命的范围是25μs-10ns。纳秒灯的性能测试如下：洗气后充入一定量的高纯氢气，设置灯频率为40kHz，电压7．0kV，激发波长λex＝357nm，发射波长λem = 357nm，测量范围0-100ns，平均数据采样率小于2000点／s，以分散胶体为样品进行寿命测试，16h后再次测试，比对两次测试结果。