FTIR仪峰高和峰面积的自动测量
FTIR仪峰高和峰面积的自动测量
红外光谱定量分析的依据是朗伯—比耳定律,即当一束光通过试样时,某一波长的光被试样吸收的强度与试样的浓度成正比,光被试样吸收的强度以谱图中该波长处的吸收峰高或峰面积表示。目前,各公司的FTIR软件都可进行吸收峰高或峰面积的自动测量。下面以Themo Fisher公司生产的系列FTIR仪为例进行介绍。
对于吸收峰高,测量操作较简单,先选择所要处理的光谱(给以激活),鼠标点击计算机左下角的吸收峰高测量指令,然后对准所要测量波长吸收峰的位置点击,计算机自动显示出两个吸收峰高值,一个为经过基线校正的吸收峰高值,另一为未经基线校正的吸收峰高值,即以吸光度O为基线的吸收峰高值。定量分析时般采用经过基线校正的吸收峰高值。
对于吸收峰面积的测量,由于吸收峰面积与选定的波数范围有关,测量操作稍麻烦些。测量时首先选择所要处理的光谱(给以激活),鼠标点击计算机左下角吸收峰面积测量指令,然后对准所要测量波长吸收峰的位置点击,同样地,计算就自动显示出两个吸收峰面积值,一个为经过基线校正的吸收峰面积值,另一个为未经基线校正的吸收峰面积值,即以吸光度O为基绒的吸收峰面积值。同时在该吸收峰峰谷处显示另一条基线,基线上有两个箭头指示此次有基线校正的峰面积侧量操作的波数范围,由于所要测定的吸收峰旁边往往有其它吸收峰的存在,会干扰算机的识别,因此要使用鼠标拉动该条基线的两个箭头至所要测量吸收峰两边的适当位置,此时显示的结果才是该吸收峰面积值的测量结果。同样地,定量分析时一般采用经过基线校正的吸收峰面积值。
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