FTIR仪基线校正
来源：http://www.philes.cn 更新日期：2014-11-07 13:22:11
FTIR仪基线校正
由于紫外可见分光光度计等实验室仪器自身原因、所制试样不理想、背景光谱的差异等因素的影响，试样经测试所得的吸收光谱的基线有可能部分或全部不处在吸光度O基线上，产生倾斜、漂移、干涉条纹等现象，通过计算机技术，将不处在吸光度O基线上的基线拉回吸光度O基线上，以便于下一步数据处理，而光谱图的吸收峰位置不会改变，就是通常所说的基线校正处理。
目前安装在仪器上的基线校正操作软件有两种：一种是自动基线校正，它由仪器智能操作完成，只要选择（激活）需要处理的光谱，点自动基线校正命令，基线校正就可自动完成，但对于有干涉条纹的光谱，自动基线校正方法所得的效果不好；另一种是手动基线校正，根据实验人员的感观和经验，通过手动逐点将倾斜基线、弯曲的干涉条纹拉回吸光度O基线上。一般来说，手动基线校正的效果比自动基线校正要好。
如果要对红外光谱进行差谱、加谱或进行定量分析等处理之前，最好将吸收光谱进行基线校正，后续的工作才能取得统一的、较为准确的结果。
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