关于紫外可见分光光度计散光的测试
来源:http://www.philes.cn 更新日期:2015-09-09 11:28:32
目前有些紫外可见分光光度计的生产厂商只测试220nm处的杂散光不测试340nm处的杂散光,这是不对的。测试220nm处杂散光的理由是:第一,根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;第二,根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小, 即信号很小,容易显现杂散光;第三,根据仪器学理论中的光电发射理论,光电倍增管在220nm处的光谱响应(灵敏度)低,容易显现杂散光。而测试340nm处杂散光的原因是完全不同的, 因为340nm处一般是氘灯换钨灯和仪器调换滤光片的地方,此时最容易产生杂散光。所以,对于紫外可见分光光度计来讲,应该测试220nm和340nm两处的杂散光。
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