关于紫外可见分光光度计散光的测试
来源：http://www.philes.cn 更新日期：2015-09-09 11:28:32
目前有些紫外可见分光光度计的生产厂商只测试220nm处的杂散光不测试340nm处的杂散光，这是不对的。测试220nm处杂散光的理由是：第一，根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；第二，根据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小， 即信号很小，容易显现杂散光；第三，根据仪器学理论中的光电发射理论，光电倍增管在220nm处的光谱响应（灵敏度）低，容易显现杂散光。而测试340nm处杂散光的原因是完全不同的， 因为340nm处一般是氘灯换钨灯和仪器调换滤光片的地方，此时最容易产生杂散光。所以，对于紫外可见分光光度计来讲，应该测试220nm和340nm两处的杂散光。
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